CENTRÁLNÍ DATABÁZE NABÍZENÝCH ODBORNÝCH ČINNOSTÍ
PRACOVIŠŤ VYSOKÉHO UČENÍ TECHNICKÉHO V BRNĚ
Výpis
Hledej klíčová slova
Kontakty na správce
Úvod
Fakulta:
Fakulta architektury - FA
Fakulta elektrotechniky a komunikacních technologií - FEKT
Fakulta chemická - FCH
Fakulta informacních technologií - FIT
Fakulta podnikatelská - FP
Fakulta stavební - FAST
Fakulta strojního inženýrství - FSI
Fakulta výtvarných umení - FAVU
Rektorát
Ústav soudního inženýrství
Ústav:
Kontaktní údaje (tel., fax, e-mail, www):
Ředitel ÚFI: prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc., tel.: 541142707, fax.: 541142842, e-mail: sikola@fme.vutbr.cz, www stránky ústavu: www.physics.fme.vutbr.cz
Poštovní adresa:
Technická 2, 616 69, Brno
Obor/Odbor/Laboratoř/Specializované pracoviště:
Kontaktní osoba:
Osobní číslo dle průkazu VUT
PŘÍJMENÍ Jméno, tituly
e-mail
tel./fax
Oblast výzkumu:
Laboratoř povrchů, ultratenkých vrstev a in situ analýzy
Oblast výzkumu:
Kontakt
Osobní číslo dle průkazu VUT
PŘÍJMENÍ Jméno, tituly
e-mail
tel./fax
smazat
Laboratorní vybavení - přístroje
Ultravakuová (UHV) aparatura sestávající ze čtyř navzájem propojených komor; Tři efuzní cely pro UHV odplynění a MBE (Omicron); Zdroj fokusovaných iontových svazků o hypertermálních energiích (< 100 eV) vlastní konstrukce; Komerční iontový zdroj Omicron ISE 100; Reflexní difrakce rychlých elektronů (RHEED); UHV STM/AFM vlastní konstrukce (elektronika Tescan); Spektroskopický elipsometr vyvinutý ve spolupráci s PřF MU (komerční UV/VIS zdroj Avantes); Rentgenová fotoelektronová spektroskopie (XPS), (Omicron); Rozptyl nízkoenergiových iontů (TOF-LEIS vlastní konstrukce (elektronika Ortec, MCP detektor Hamamatsu); Hmotnostní analyzátor pro analýzu sekundární ionty (SIMS), Balzers; Difrakce pomalých elektronů (LEED), (SPECS).
Laboratorní vybavení - software
výše zmiňované techniky jsou řízeny a vyhodnocovány odpovídajícím software (ať již komerčním nebo vlastní výroby).
Nabídka služeb
Příprava tenkých a ultratenkých vrstev a povlaků, analýza raných stádií růstu vrstev, magnetické multivrstevnaté systémy.
Klíčová slova
Příprava tenkých vrstev, analýzy in situ fyzikálních vlastností vrstev v UHV podmínkách.
Smazat oblast výzkumu
Oblast výzkumu:
Laboratoř pro depozici s užitím iontových svazků (IBAD) a leptání iontovými svazky
Oblast výzkumu:
Kontakt
Osobní číslo dle průkazu VUT
PŘÍJMENÍ Jméno, tituly
e-mail
tel./fax
smazat
Laboratorní vybavení - přístroje
Vysokovakuová komora se dvěma širokosvazkovými zdroji iontů Kaufmanova typu;
Laboratorní vybavení - software
Měření mg. vlastností spin valve součástek.
Nabídka služeb
Příprava tenkých vrstev a multivrstevnatých systémů, leptání struktur širokým svazkem iontů.
Klíčová slova
IBAD, multivrstevnaté systémy, leptání svazky iontů.
Smazat oblast výzkumu
Oblast výzkumu:
Laboratoř rastrovací sondové mikroskopie
Oblast výzkumu:
Kontakt
Osobní číslo dle průkazu VUT
PŘÍJMENÍ Jméno, tituly
e-mail
tel./fax
smazat
Laboratorní vybavení - přístroje
Komerční rastrovací sondový mikroskop (SPM) – VEECO, Autoprobe CR-R, 2002: Rastrovací tunelový microscop (STM), Atomový silový mikroskop (AFM), magnetický silový mikroskop (MFM) a laterální silový mikroskop (LFM) s modem pro vytváření nanostruktur, SNOM mikroskop firmy NT-MDT. Zařízení pro fotolitografii, elektronový rastrovací mikroskop (TESCAN).
Laboratorní vybavení - software
Obslužné programy zajišťující PC řízení a podporu vyhodnocování experimentálních dat shora uvedených technik.
Nabídka služeb
Vytváření nanostruktur pomocí nanolitogragie (např. lokální anodickou oxidací prováděnou rastrovacími sondovými mikroskopy) a jejich aplikace při studiu transportních vlastností (coulombovská blokáda, Aharonův-Bohmův jev apod.) a plasmonice (např. šíření světla pod difrakční limitou, rezonanční optické antény a zesílení luminiscenčních vlastností nanoteček). Měření (analýza) topografie povrchů subnanometrových rozměrů. Měření optické odezvy nanostruktur v blízkém a vzdáleném poli metodou SNOM. Výroba nanostrukturních motivů metodou elektronové litografie a fokusovaným iontovým svazkem (FIB) ve spolupráci s firmami TESCAN a FEI v Brně.
Klíčová slova
AFM/STM, SNOM, litografie, nanostruktury.
Smazat oblast výzkumu
Zadejte heslo pro editaci:
Zadejte heslo pro smazání: