CENTRÁLNÍ DATABÁZE NABÍZENÝCH ODBORNÝCH ČINNOSTÍ
PRACOVIŠŤ VYSOKÉHO UČENÍ TECHNICKÉHO V BRNĚ

Výpis Hledej klíčová slova Kontakty na správce Úvod
Fakulta:
 FEKT
Ústav:
 Ústav fyziky
Kontaktní údaje (tel., fax, e-mail, www):
 Vedoucí ústavu: Doc. Ing. Lubomír Grmela, CSc,
tel: 541 143 279, sekret. 541 143 391, fax: 541 143 133
e-mail: grmela@feec.vutbr.cz
www.feec.vutbr.cz
Poštovní adresa:
 Ústav fyziky
Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Vysoké učení technické v Brně
Technická 8, 616 00 Brno
Obor/Odbor/Laboratoř/Specializované pracoviště:
 Laboratoř šumové diagnostiky
Kontaktní osoba:
 KOKTAVÝ Pavel, Doc., Ing., CSc., Ph.D. (os. číslo: 2410), koktavy@feec.vutbr.cz, tel.: 541143394/541143133
Oblast výzkumu: Diagnostika mechanicky zatěžovaných nevodivých materiálů a součástek pomocí elektromagnetické a akustické emise
Kontakt
 KOKTAVÝ Pavel, Doc., Ing., CSc., Ph.D. (os. číslo: 2410), koktavy@feec.vutbr.cz, tel.: 541143394/541143133
Laboratorní vybavení - přístroje
 Manuální hydraulický lis do 200 kN, počítačem řízený lis do 100 kN, měřič deformace vzorku. Automatizovaná aparatura pro 8-kanálové kontinuální sledování událostí elektromagnetické a akustické emise a odečítání parametrů událostí v reálném čase v závislosti na zvoleném zatěžovacím režimu (vzorkovací frekvence každého kanálu do 60 MHz, vzorkování 12 bitů). Nízkošumové předzesilovače (20 Hz - 10 MHz, 3 Hz - 1 MHz), nízkošumové zesilovače do 1 MHz.
Laboratorní vybavení - software
 Specializovaný software pro kontinuální vícekanálové měření událostí elektromagnetické a akustické emise, určování jejich parametrů v reálném čase a následné další zpracování v časové i spektrální oblasti. Software byl vyvinut v programovém prostředí LabView.
Nabídka služeb
 Sledování vzniku mikrotrhlin v nevodivých mechanicky zatěžovaných materiálech a součástkách v laboratorních podmínkách (při definovaném zatěžovacím režimu) i v provozních podmínkách.
Klíčová slova
 Diagnostika, zatěžování, mechanické zatěžování, trhliny, mikrotrhliny, elektromagnetická emise, akustická emise, fraktoemise, model
Oblast výzkumu: Diagnostika polovodičových materiálů a struktur
Kontakt
 KOKTAVÝ Pavel, Doc., Ing., CSc., Ph.D. (os. číslo: 2410), koktavy@feec.vutbr.cz, tel.: 541143394/541143133
Laboratorní vybavení - přístroje
 Automatizované aparatury pro měření časových průběhů šumových napětí a proudů, napěťové a proudové závislosti efektivní hodnoty šumového proudu, spektrálních výkonových hustot, VA charakteristik (se zdrojem napětí i proudu), CU charakteristik (až do 600 V), doby života nosičů náboje a dalších, to vše v závislosti na teplotě. Pracoviště pro měření vyzařování z PN přechodu solárních článků, měření zatěžovacích charakteristik solárních článků při konstantním osvětlení a měření jejich spektrální odezvy.
K významnému laboratornímu vybavení patří precizní manuální testovací stanice Cascade Microtech M150 umožňující nf., vf. i optické měření na polovodičových vzorcích, He uzavřený kryogenní systém (10 K - 400 K) Janis Research, FFT dynamický spektrální analyzátor v základním pásmu (DC - 100 kHz) Agilent, Rejekční voltmetr (300 mHz - 60 kHz) Signal Recovery, kontinuální vzorkovací zařízení (vzorkovací frekvence 50 MHz) National Instruments, impedanční analyzátor (1Hz - 1MHz) Agilent, chlazená detekční jednotka s fotonásobičem Hamamatsu, nízkošumové předzesilovače a zesilovače a další.
Laboratorní vybavení - software
 Software pro automatizované měření a vyhodnocení naměřených dat (v časové i spektrální oblasti) založený na programovacích prostředích Matlab, C++ Builder, LabView.
Nabídka služeb
 Diagnostika polovodičových materiálů a součástek. Experimentální určení parametrů struktur jako je koncentrace nosičů, doba života, typ PN přechodu, průběh koncentrace příměsí v PN přechodu, difúzní napětí, šířka přechodu atd. Diagnostika kvality struktur (lokální a objemové defekty, kontakty) a studium vlastností struktur při provozu v extrémních teplotních podmínkách. Vytvoření modelu součástek a návrh optimalizace jejich parametrů.
Klíčová slova
 Diagnostika, šum, polovodič, transportní charakteristiky, šumové charakteristiky, model, kontakty, kvalita, spolehlivost, doba života, solární článek, dioda, tranzistor, defekt, lokální defekt, koncentrační profil, lokální vyzařování

<<< Zpět na seznam