CENTRÁLNÍ DATABÁZE NABÍZENÝCH ODBORNÝCH ČINNOSTÍ
PRACOVIŠŤ VYSOKÉHO UČENÍ TECHNICKÉHO V BRNĚ

Výpis Hledej klíčová slova Kontakty na správce Úvod
Fakulta:
 FSI
Ústav:
 Ústav fyzikálního inženýrství
Kontaktní údaje (tel., fax, e-mail, www):
 Ředitel ÚFI:
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc., tel.: 541142707, fax.: 541142842, e-mail: sikola@fme.vutbr.cz,
www stránky ústavu:
www.physics.fme.vutbr.cz
Poštovní adresa:
 Technická 2, 616 69, Brno
Obor/Odbor/Laboratoř/Specializované pracoviště:
 Odbor fyziky pevných látek a povrchů
Kontaktní osoba:
 ŠIKOLA Tomáš, prof., RNDr., CSc., (os. číslo: 1768), sikola@fme.vutbr.cz, tel.: 541142707/541142842
Oblast výzkumu: Laboratoř povrchů, ultratenkých vrstev a in situ analýzy
Kontakt
 ŠIKOLA Tomáš, prof., RNDr., CSc., (os. číslo: 1768), sikola@fme.vutbr.cz, tel.: 541142707/541142842
SPOUSTA Jiří, prof., RNDr., PhD., (os. číslo: 2034), spousta@fme.vutbr.cz, tel.: 541142848/541142842
BÁBOR Petr, Ing., PhD., (os. číslo: 2778), babor@fme.vutbr.cz, tel.: 541142783/541142842
URBÁNEK Michal, Ing., PhD., (os. číslo: 3226), urbanek@fme.vutbr.cz, tel.: 541142831/541142842
Laboratorní vybavení - přístroje
 Ultravakuová (UHV) aparatura sestávající ze čtyř navzájem propojených komor;
Tři efuzní cely pro UHV odplynění a MBE (Omicron);
Zdroj fokusovaných iontových svazků o hypertermálních energiích (< 100 eV) vlastní konstrukce;
Komerční iontový zdroj Omicron ISE 100;
Reflexní difrakce rychlých elektronů (RHEED);
UHV STM/AFM vlastní konstrukce (elektronika Tescan); Spektroskopický elipsometr vyvinutý ve spolupráci s PřF MU (komerční UV/VIS zdroj Avantes);
Rentgenová fotoelektronová spektroskopie (XPS), (Omicron);
Rozptyl nízkoenergiových iontů (TOF-LEIS vlastní konstrukce (elektronika Ortec, MCP detektor Hamamatsu);
Hmotnostní analyzátor pro analýzu sekundární ionty (SIMS), Balzers;
Difrakce pomalých elektronů (LEED), (SPECS).
Laboratorní vybavení - software
 výše zmiňované techniky jsou řízeny a vyhodnocovány odpovídajícím software (ať již komerčním nebo vlastní výroby).
Nabídka služeb
 Příprava tenkých a ultratenkých vrstev a povlaků, analýza raných stádií růstu vrstev, magnetické multivrstevnaté systémy.
Klíčová slova
 Příprava tenkých vrstev, analýzy in situ fyzikálních vlastností vrstev v UHV podmínkách.
Oblast výzkumu: Laboratoř pro depozici s užitím iontových svazků (IBAD) a leptání iontovými svazky
Kontakt
 ŠIKOLA Tomáš, prof., RNDr., CSc., (os. číslo: 1768), sikola@fme.vutbr.cz, tel.: 541142707/541142842
SPOUSTA Jiří, prof., RNDr., PhD., (os. číslo: 2034), spousta@fme.vutbr.cz, tel.: 541142848/541142842
URBÁNEK Michal, Ing., PhD., (os. číslo: 3226), urbanek@fme.vutbr.cz, tel.: 541142831/541142842
Laboratorní vybavení - přístroje
 Vysokovakuová komora se dvěma širokosvazkovými zdroji iontů Kaufmanova typu;
Laboratorní vybavení - software
 Měření mg. vlastností spin valve součástek.
Nabídka služeb
 Příprava tenkých vrstev a multivrstevnatých systémů, leptání struktur širokým svazkem iontů.
Klíčová slova
 IBAD, multivrstevnaté systémy, leptání svazky iontů.
Oblast výzkumu: Laboratoř rastrovací sondové mikroskopie
Kontakt
 ŠIKOLA Tomáš, prof., RNDr., CSc., (os. číslo: 1768), sikola@fme.vutbr.cz, tel.: 541142707/541142842
Laboratorní vybavení - přístroje
 Komerční rastrovací sondový mikroskop (SPM) – VEECO, Autoprobe CR-R, 2002:
Rastrovací tunelový microscop (STM),
Atomový silový mikroskop (AFM), magnetický silový mikroskop (MFM) a laterální silový mikroskop (LFM) s modem pro vytváření nanostruktur,
SNOM mikroskop firmy NT-MDT.
Zařízení pro fotolitografii, elektronový rastrovací mikroskop (TESCAN).
Laboratorní vybavení - software
 Obslužné programy zajišťující PC řízení a podporu vyhodnocování experimentálních dat shora uvedených technik.
Nabídka služeb
 Vytváření nanostruktur pomocí nanolitogragie (např. lokální anodickou oxidací prováděnou rastrovacími sondovými mikroskopy) a jejich aplikace při studiu transportních vlastností (coulombovská blokáda, Aharonův-Bohmův jev apod.) a plasmonice (např. šíření světla pod difrakční limitou, rezonanční optické antény a zesílení luminiscenčních vlastností nanoteček).
Měření (analýza) topografie povrchů subnanometrových rozměrů. Měření optické odezvy nanostruktur v blízkém a vzdáleném poli metodou SNOM.
Výroba nanostrukturních motivů metodou elektronové litografie a fokusovaným iontovým svazkem (FIB) ve spolupráci s firmami TESCAN a FEI v Brně.
Klíčová slova
 AFM/STM, SNOM, litografie, nanostruktury.

<<< Zpět na seznam